中国科大实现不受光学散射极限限制的量子统计测量术

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中国科学技术大学郭光灿院士领导的中科院量子信息重点实验室孙方稳研究组,在国际上首次利用量子统计测量技术实现了不受传统光学散射极限限制的相邻发光物体的测量和分辨,其精度可以达到纳米量级。研究成果4月9日发表在《物理评论快报》上。
 
如何提高测量精度,数百年来一直是科学研究的主要课题和技术发展的主要追求目标;同时,通过物理量的高精度量反过来又推动着科学技术向前发展。因此,新型的测量技术不断地被开发,而其中最有吸引力的就是利用量子力学基本原理实现的量子测量方法。随着量子力学的发展以及相关量子信息技术的开发和应用,量子测量一方面可以实现超过经典测量极限的高精度测量;另一方面,可以实现经典方式无法完成的各种测量。如利用传统光学测量相近的两个物体的距离受制于光学瑞利散射极限,其精度仍在数百个纳米,远远大于现在各种物理、化学、材料、生物等学科发展所要求的成像精度。孙方稳研究组利用物体发光的量子统计属性,设计并实验实现了不受经典光学散射极限的量子统计测量技术,其精度可达纳米量级。

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